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Forschungserfolg in Phase-Change-Memory bahnt Weg zu Unternehmensanwendungen
ID: 446992
Forschungserfolg in Phase-Change-Memory bahnt Weg zu Unternehmensanwendungen
PCM-Speichertechnologie 100-fach schneller und deutlich langlebiger als Flash-Speicher
(pressrelations) -
Forscher bei IBM Research? Zürich haben erstmals gezeigt, dass Phase-Change-Memory genannte Speicher (kurz: PCM, deutsch: Phasenwechsel-Speicher) nicht nur einzelne Bits, sondern gleich mehrere Bits pro Speicherzelle sehr zuverlässig über lange Zeiträume speichern können. Der Forschungserfolg ist ein bedeutender Schritt hin zur Entwicklung von kosteneffizienten, schnellen und langlebigen Memory-Anwendungen für elektronische Geräte wie zum Beispiel Smartphones, aber auch für Hochleistungs-IT-Systeme für Unternehmen sowie für Cloud-Speicherlösungen. PCM ist eine neuartige nichtflüchtige Speichertechnologie, die aufgrund der erzielbaren Schreib- und Lesegeschwindigkeit in Kombination mit sehr guter Langlebigkeit und hoher Speicherdichte das Potenzial aufweist, innerhalb der nächsten fünf Jahre die Speicherlandschaft zu verändern.
Das rasante Wachstum der digitalen Daten, die steigende Vernetzung und Kommunikation zwischen Geräten und IT-Systemen, der Übergang zu Cloud-Computing-Modellen und die Zunahme von Hochleistungsanalytik im Rahmen des Informationsmanagements ? alle diese Entwicklungen erfordern immer leistungsfähigere, effizientere und dennoch erschwingliche Speichertechnologien.
Phase-Change-Memory stellt eine der vielversprechendsten neuartigen Speichertechnologien dar, die einen weiteren Leistungssprung bei Speicher- und IT-Systemen eröffnen könnte. Die PCM-Speichertechnologie ermöglicht die nichtflüchtige Datenspeicherung bei hohen Speicherdichten und ist gleichzeitig 100-fach schneller und signifikant langlebiger als die bekannte Flash-Speichertechnologie. Mit PCM-Speichern könnten Computer und Server in Sekundenschnelle hochfahren und die Gesamtleistungsfähigkeit von IT-Systemen erheblich gesteigert werden. Im Gegensatz zu den besten sogenannten Enterprise-Flash-Speichern, die etwa 30 000 Schreibzyklen erreichen, erzielt ein PCM-Speicher eine viel bessere Haltbarkeit von 10 Millionen Schreibzyklen, was im Gegensatz zu Flash-Speichern selbst anspruchsvollen Unternehmensanwendungen genügt.
Erstmals haben IBM Forscher nun zeigen können, dass PCM-Speicher tatsächlich zuverlässig und über lange Zeit mehrere Bits pro Zelle speichern und auslesen können. Die Möglichkeit, mehrere Bits pro Zelle zu speichern, stellt dabei einen der wichtigsten Schritte auf dem Weg zu kostengünstigen PCM-Speichern dar. Um die demonstrierte Zuverlässigkeit zu erreichen, waren entscheidende technische Fortschritte im Schreib- und Leseprozess notwendig.
Konkret haben die IBM Forscher iterative Schreibverfahren zur Kompensation der Variabilität der einzelnen Speicherzellen sowie ausgeklügelte Modulationscodierungs-Techniken entwickelt, die resistent gegenüber dem so genannten Widerstands-Drift in PCM-Speichern sind und somit ein korrektes Lesen der Bits trotz Drift ermöglichen. Drift ist ein Phänomen, bei dem die zeitliche Veränderung der Eigenschaften des PCM-Materials eine Verschiebung der elektrischen Widerstandswerte der Phasenzustände zur Folge hat, in welchen die Bitinformationen gespeichert sind. Es stellt bis heute eine der Hautptschwierigkeiten bei der Umsetzung von Multi-Bit-PCM-Technologien dar.
Mit ihrer Drift-resistenten Technik erzielen die Forscher beim Auslesen erstmals die extrem geringe Fehlerraten, wie sie für Unternehmensanwendungen gefordert werden. Darüber hinaus haben sie einen 100-fach schnelleren Schreibprozess als bei Flash-Speichern zeigen können.
Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der angefügten englischsprachigen Medienmitteilung.
Hochauflösendes Bildmaterial finden Sie online:
http://www.flickr.com/photos/ibm_research_zurich/sets/72157626714358795/with/5881252148/
MADE IN IBM LABS: IBM SCIENTISTS DEMONSTRATE MEMORY BREAKTHROUGH FOR THE FIRST TIME
Highlights:
Reliable multi-bit phase-change memory technology demonstrated Scientists achieved a 100 times performance increase in write latency compared to Flash Enables a paradigm shift for enterprise IT and storage systems, including cloud computing by 2016 Zurich, June 30, 2011 ? For the first time, scientists at IBM (NYSE: IBM) Research have demonstrated that a relatively new memory technology, known as phase-change memory (PCM), can reliably store multiple data bits per cell over extended periods of time. This significant improvement advances the development of low-cost, faster and more durable memory applications for consumer devices, including mobile phones and cloud storage, as well as high-performance applications, such as enterprise data storage. With a combination of speed, endurance, non-volatility and density, PCM can enable a paradigm shift for enterprise IT and storage systems within the next five years.
Scientists have long been searching for a universal, non-volatile memory technology with far superior performance than Flash ? today?s most ubiquitous non-volatile memory technology. The benefits of such a memory technology would allow computers and servers to boot instantaneously and significantly enhance the overall performance of IT systems. A promising contender is PCM that can write and retrieve data 100 times faster than Flash, enable high storage capacities and not lose data when the power is turned off. Unlike Flash, PCM is also very durable and can endure at least 10 million write cycles, compared to current enterprise-class Flash at 30,000 cycles or consumer-class Flash at 3,000 cycles. While 3,000 cycles will out live many consumer devices, 30,000 cycles are orders of magnitude too low to be suitable for enterprise applications. (see chart for comparisons).
"As organizations and consumers increasingly embrace cloud-computing models and services, whereby most of the data is stored and processed in the cloud, ever more powerful and efficient, yet affordable storage technologies are needed,? states Dr. Haris Pozidis, Manager of Memory and Probe Technologies at IBM Research ? Zurich. "By demonstrating a multi-bit phase-change memory technology which achieves for the first time reliability levels akin to those required for enterprise applications, we made a big step towards enabling practical memory devices based on multi-bit PCM.?
Multi-level Phase Change Memory Breakthrough
To achieve this breakthrough demonstration IBM scientists in Zurich used advanced modulation coding techniques to mitigate the problem of short-term drift in multi-bit PCM, which causes the stored resistance levels to shift over time, which in turn creates read errors. Up to now, reliable retention of data has only been shown for single bit-per-cell PCM, whereas no such results on multi-bit PCM have been reported.
PCM leverages the resistance change that occurs in the material -- an alloy of various elements -- when it changes its phase from crystalline ? featuring low resistance ? to amorphous ? featuring high resistance ? to store data bits. In a PCM cell, where a phase-change material is deposited between a top and a bottom electrode, phase change can controllably be induced by applying voltage or current pulses of different strengths. These heat up the material and when distinct temperature thresholds are reached cause the material to change from crystalline to amorphous or vice versa.
In addition, depending on the voltage, more or less material between the electrodes will undergo a phase change, which directly affects the cell's resistance. Scientists exploit that aspect to store not only one bit, but multiple bits per cell. In the present work, IBM scientists used four distinct resistance levels to store the bit combinations "00?, "01? 10? and "11?.
To achieve the demonstrated reliability, crucial technical advancements in the "read? and "write? process were necessary. The scientists implemented an iterative "write? process to overcome deviations in the resistance due to inherent variability in the memory cells and the phase-change materials: "We apply a voltage pulse based on the deviation from the desired level and then measure the resistance. If the desired level of resistance is not achieved, we apply another voltage pulse and measure again ? until we achieve the exact level,? explains Pozidis.
Despite using the iterative process, the scientists achieved a worst-case write latency of about 10 microseconds, which represents a 100x performance increase over even the most advanced Flash memory on the market today.
For demonstrating reliable read-out of data bits, the scientists needed to tackle the problem of resistance drift. Because of structural relaxation of the atoms in the amorphous state, the resistance increases over time after the phase change, eventually causing errors in the read-out. To overcome that issue, the IBM scientists applied an advanced modulation coding technique that is inherently drift-tolerant. The modulation coding technique is based on the fact that, on average, the relative order of programmed cells with different resistance levels does not change due to drift.
Using that technique, the IBM scientists were able to mitigate drift and demonstrate long- term retention of bits stored in a subarray of 200,000 cells of their PCM test chip, fabricated in 90-nanometer CMOS technology. The PCM test chip was designed and fabricated by scientists and engineers located in Burlington, Vermont; Yorktown Heights, New York and in Zurich. This retention experiment has been under way for more than five months, indicating that multi-bit PCM can achieve a level of reliability that is suitable for practical applications.
The PCM research project at IBM Research ? Zurich will continue to be studied at the recently opened Binnig and Rohrer Nanotechnology Center. The center, which is jointly operated by IBM and ETH Zurich as part of a strategic partnership in nanosciences, offers a cutting-edge infrastructure, including a large cleanroom for micro- and nanofabrication as well as six "noise-free? labs, especially shielded laboratories for highly sensitive experiments.
The paper "Drift-tolerant Multilevel Phase-Change Memory? by N. Papandreou, H. Pozidis, T. Mittelholzer, G.F. Close, M. Breitwisch, C. Lam and E. Eleftheriou, was recently presented by Haris Pozidis at the 3rd IEEE International Memory Workshop in Monterey, CA.
Press Images:
http://www.flickr.com/photos/ibm_research_zurich/sets/72157626714358795/with/5881252148/
KontaktinformationMichael Kiess
Media Relations IBM Forschung und Entwicklung
+49-7031-16-4051
+49-171-4921178
kiess(at)de.ibm.com
  
  
  
Datum: 22.07.2011 - 08:11 Uhr
Sprache: Deutsch
News-ID 446992
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