PresseKat - Prof. Philip Kim erhält den Dresdener Barkhausen Award 2011

Prof. Philip Kim erhält den Dresdener Barkhausen Award 2011

ID: 583108

Sonderpreis für den Nachwuchs von FRT gestiftet

(firmenpresse) - Der Dresdener Barkhausen Award 2011 geht dieses Jahr über den großen Teich an Prof. Philip Kim von der Columbia University in New York. Er wird für seine Leistungen auf dem Gebiet der Kohlenstoff basierten Elektronik ausgezeichnet. Den Preis vergeben der Materialforschungsverbund Dresden (MFD), die TU Dresden und das Frauenhofer IZFP Dresden. Fries Research & Technology (FRT), Spezialist für Multisensor-Oberflächenvermessung und Wafer-Metrologie, unterstützt als einer der Sponsoren den Award, mit dem herausragende wissenschaftliche Leistungen in der angewandten Forschung und Entwicklung auf dem Grenzgebiet zwischen Physik, Materialwissenschaft und Elektrotechnik gewürdigt werden.

Ganz besonderen Wert legt FRT auf die Förderung des Nachwuchses und engagiert sich deshalb seit 2009 mit bei dem Posterpreis für Studenten und junge Wissenschaftler. Die Auszeichnung geht dieses Jahr an Alexander Nerowski, der mit seiner Arbeit zur "Dielectrophoretic Growth of Nanowires" die Jury überzeugte. "Auf diese Weise möchten wir unseren Teil dazu beitragen, dass der naturwissenschaftliche Nachwuchs bestätigt und gefördert wird", so Thomas Fries, Geschäftsführer von FRT.

Heinrich Barkhausen
Der 'Dresden Barkhausen Award' würdigt die bahnbrechenden Leistungen von Heinrich Barkhausen. Er lehrte und forschte von 1911 bis 1953 an der Technischen Hochschule Dresden (der heutigen TU Dresden) auf dem Gebiet der Nachrichtentechnik, unter anderem als Leiter des Instituts für Schwachstromtechnik. Nach ihm ist das "Barkhausen-Rauschen" benannt, welches Magnetisierungsprozesse mittels Verstärkertechnik hörbar macht und heute vor allem im Bereich der Werkstoffdiagnostik genutzt wird.

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Unternehmensinformation / Kurzprofil:

Fries Research & Technology GmbH - the art of metrology
Fries Research & Technology GmbH (FRT) bietet 3D-Oberflächenmesstechnik bis zur Mikro- und Nanometerauflösung für Forschung und Produktion. Die mehrfach ausgezeichneten Messsysteme von FRT liefern berührungslos und zerstörungsfrei sowie wahlweise vollautomatisch Informationen über die Topographie, Struktur, Stufenhöhe, Rauheit, Verschleiß, Schichtdicke und viele andere Parameter. Mehr als 300 Anlagen sind weltweit bei Unternehmen aus den Branchen wie z.B. Automotive, Halbleiter, Mikrosystemtechnik, Optik, Solar/Photovoltaik im Einsatz.
Das Unternehmen hat seinen Sitz in Bergisch Gladbach bei Köln und unterhält Tochtergesellschaften in den USA, China und der Schweiz sowie ein Vertriebs- und Servicenetz in den USA, Asien und Europa.



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Oliver Schillings
Am Mühlenberg 47
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Datum: 28.02.2012 - 10:00 Uhr
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Ansprechpartner: Dr. Thomas Fries
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