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Inline Prüfgerät für Incircuit- und Funktionstest mit Wireless-Interface
ID: 985210
Auf der Productronica 2013 in München stellte ENGMATEC erstmals einen Testhandler mit integrierter Test Station Inline TSi von Teradyne vor.
(firmenpresse) - Radolfzell, 21.11.2013
Auf Anfrage der in Boston beheimateten Firma Teradyne hat die am Bodensee beheimatete ENGMATEC GmbH einen Testhandler entwickelt, bei dem sich das Testsystem, die Stromversorgungen und die Steuer-PCs komplett innerhalb der Anlage befinden. Durch die sehr kompakte Bauweise kann das Gerät äußerst platzsparend eingesetzt werden.
Das Testsystem TSi ist bei dieser innovativen Lösung direkt unter der Kontaktiereinheit auf einer Hubeinheit platziert. Auf dieser befinden sich fest verschraubte "Link Module", die das Testsystem durch einen pneumatischen Hub direkt mit der horizontalen Schnittstelle des Prüfadapters verbinden. Auf eine Verkabelung kann im Gegensatz zu Wettbewerbs¬produkten komplett verzichtet werden. Lediglich auf dem Prüfadapter selbst gibt es kurze Verdrahtungen. Eine Adaptierung der Schnittstelle über Vakuum kann entfallen.
Die Hubeinheit wird nur beim Wechsel des Prüfadapters bewegt und bleibt sonst in Ruhe. Die für den Testhandler typische kurze Rüstzeit und die bedienungsfreundliche Verriegelung bleiben erhalten.
Steuer-PCs, Stromversorgung und Testsystem sind von vorn und hinten gut zugänglich.
Vorteile:
•kurze Messleitungen nur im Prüfadapter (hohe Geschwindigkeit, geringe parasitäre Kapazitäten)
•keine Verdrahtung außerhalb des Prüfadapters
•schneller und sicherer Anschluss, keine Verdrahtungsfehler
•kein Vakuum notwendig
Der ENGMATEC Testhandler ETH ist universell für viele Kontaktieraufgaben, z.B. ICT, Funktionstest, Flashen, optische Inspektion oder HF-Prüfung einsetzbar.
Themen in dieser Pressemitteilung:
Unternehmensinformation / Kurzprofil:
  
  
  
Datum: 21.11.2013 - 12:04 Uhr
Sprache: Deutsch
News-ID 985210
Anzahl Zeichen: 1794
Kontakt-Informationen:
Kategorie:
Maschinenbau
Meldungsart: Erfolgsprojekt
Versandart: Veröffentlichung
Freigabedatum: 21.11.2013
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"Inline Prüfgerät für Incircuit- und Funktionstest mit Wireless-Interface"
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